Chuchvaga N.А., А.V. А.V., Titov А.S., N.S. Tokmoldin, S.Zh. Tokmoldin, и Terukov Е.I. «INVESTIGATION OF PASSIVATION OF SURFACE STATES OF SINGLE CRYSTALLINE SILICON IN HETEROSTRUCTURES WITH AN INTEGRATED THIN AMORPHOUS LAYER». Известия НАН РК. Серия физико-математическая, no. 5 (сентябрь 22, 2020): 95–101. просмотрено май 8, 2024. https://journals.nauka-nanrk.kz/physics-mathematics/article/view/627.