Chuchvaga, N., А.V. А., Titov А., N. Tokmoldin, S. Tokmoldin, и Terukov Е. «INVESTIGATION OF PASSIVATION OF SURFACE STATES OF SINGLE CRYSTALLINE SILICON IN HETEROSTRUCTURES WITH AN INTEGRATED THIN AMORPHOUS LAYER». Известия НАН РК. Серия физико-математическая, вып. 5, сентябрь 2020 г., сс. 95-101, https://journals.nauka-nanrk.kz/physics-mathematics/article/view/627.