Chuchvaga, N., А.V. А., Titov А., Tokmoldin, N., Tokmoldin, S. и Terukov Е. (2020) «INVESTIGATION OF PASSIVATION OF SURFACE STATES OF SINGLE CRYSTALLINE SILICON IN HETEROSTRUCTURES WITH AN INTEGRATED THIN AMORPHOUS LAYER», Известия НАН РК. Серия физико-математическая, (5), сс. 95–101. доступно на: https://journals.nauka-nanrk.kz/physics-mathematics/article/view/627 (просмотрено: 23 ноябрь 2024).