Chuchvaga N.А., А.V. А.V., Titov А.S., N.S. Tokmoldin, S.Zh. Tokmoldin, и Terukov Е.I. 2020. «INVESTIGATION OF PASSIVATION OF SURFACE STATES OF SINGLE CRYSTALLINE SILICON IN HETEROSTRUCTURES WITH AN INTEGRATED THIN AMORPHOUS LAYER». Известия НАН РК. Серия физико-математическая, вып. 5 (сентябрь):95-101. https://journals.nauka-nanrk.kz/physics-mathematics/article/view/627.